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顯微成像·洞察微觀之美
Microscopic imaging, insight into the beauty of micro
什么是微分干涉對(duì)比鏡檢術(shù)?
發(fā)布時(shí)間：2025-04-09
訪問(wèn)量：531
什么是微分干涉對(duì)比鏡檢術(shù)（Differential interference contrast DIC）?下面將一一介紹:
微分干涉對(duì)比鏡檢術(shù)出現(xiàn)于60年代，它不僅能觀察無(wú)色透明的物體，而且圖象呈現(xiàn)出浮雕壯的立體感，并具有相襯鏡檢術(shù)所不能達(dá)到的某些優(yōu)點(diǎn)，觀察效果更為逼真。
（1）原理微分干涉對(duì)比鏡檢術(shù)是利用特制的渥拉斯頓棱鏡來(lái)分解光束。分裂出來(lái)的光束的振動(dòng)方向相互垂直且強(qiáng)度相等，光束分別在距離很近的兩點(diǎn)上通過(guò)被檢物體，在相位上略有差別。由于兩光束的裂距極小，而不出現(xiàn)重影現(xiàn)象，使圖象呈現(xiàn)出立體的三維感覺(jué)。
（2）微分干涉對(duì)比鏡檢術(shù)所需的特殊部件：
a.起偏鏡 b.檢偏鏡 c.渥拉斯頓棱鏡2塊
（3）微分干涉對(duì)比鏡檢時(shí)的注意事項(xiàng)：
a.因微分干涉靈敏度高，制片表面不能有污物和灰塵。
b.具有雙折射性的物質(zhì)，不能達(dá)到微分干涉對(duì)比鏡檢的效果。
c.倒置顯微鏡應(yīng)用微分干涉時(shí)，不能用塑料培養(yǎng)皿。
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